[Lu...] Posted June 2, 2021 Share Posted June 2, 2021 Guten Tag! Ich habe eine Platte mit einer großen Anzahl an Stifte (etwa 1500) in einem Rechteckmuster, ein schematisches Beispiel ist angehängt. Ist es möglich auf dem orange markierten Stift eine Winkelmessung zu erstellen und die Messung dann zu mustern? Für Lösungsansätze oder Work-Arounds wäre ich sehr dankbar ? Liebe Grüße Lukas Link to comment Share on other sites More sharing options...
[Na...] Posted June 2, 2021 Share Posted June 2, 2021 Hallo, dafür gibt es unter Inspektion die Funktion "Cluster erzeugen". Damit wird aus selektierten Elemente ein Koordinatensystem erzeugt. Im Beispiel habe ich den Winkel zur Z-Achse des Koordinatensystems gemessen. Dann Zylinder und Winkel inklusive Prüfung selektieren und "Cluster erzeugen" wählen. Dann wird ein lokales Koordinatensystem erzeugt, was man dann mit Inspektion -> Cluster kopieren verschieben und kopieren kann. Für diese Platte würde man sich am besten zunächst die fünf Zylinder konstruieren (kann man auch schon clustern) und dann diese Fünfergruppe in die andere Richtung kopieren. Falls der Winkel gegen die Ebene der Platte gemessen werden soll, dann muss die Ebene im Dialog beim Erzeugen des Clustern als globales Element angegeben werden. Sonst würde diese ebenfalls kopiert werden. Gruß, Nanno Link to comment Share on other sites More sharing options...
[Lu...] Posted June 2, 2021 Author Share Posted June 2, 2021 Super, vielen Dank für die schnelle Antwort und die gute Erklärung! Link to comment Share on other sites More sharing options...
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